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新一代集成電路測試系統(tǒng)研發(fā)成功
2014-02-28

    近日,設(shè)備部歷經(jīng)一年時間,成功研發(fā)出新一代集成電路測試系統(tǒng),并將該系統(tǒng)命名為“MIT300”。該系統(tǒng)未來將廣泛用于公司測試部芯片測試和成品測試。該系統(tǒng)是以公司的產(chǎn)品特色為設(shè)計基礎(chǔ),并在此基礎(chǔ)上進行優(yōu)化和提升的測試系統(tǒng)。

    MIT300在兼顧原有A690機型的基礎(chǔ)上,設(shè)計了獨特的usb控制板、數(shù)據(jù)采集式測試方案、雙通道獨立測試系統(tǒng),體積只有原來1/3,測試效率卻提升2到4倍。設(shè)備部經(jīng)理連高城介紹說:“我們在研發(fā)的過程中不僅注重測試系統(tǒng)的性能提升,還在成本上做文章,它的成本只有市場上普遍的測試系統(tǒng)的10%。而且我們研發(fā)的MIT300測試系統(tǒng)緊密結(jié)合友旺電子的產(chǎn)品特色,使之更具針對性和高效性。”

    據(jù)悉,測試部將逐步裝機10套,同時設(shè)備部進一步研發(fā)下一代測試機,體積將再縮小一倍,效率提升2倍。今后還要把測試機作為公司的獨立產(chǎn)品推向市場。